[发明专利]用于提高阵列测向精度的极化测量方法、系统及存储介质有效
| 申请号： | 202210336985.X | 申请日： | 2022-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN114415107B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 朱全江;王浩丞;沈志博;刘俊;唐勇 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G01S3/14 | 分类号： | G01S3/14;G01S3/48 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 王会改 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于提高阵列测向精度的极化测量方法、系统及存储介质，该方法包括：构建干涉仪天线阵；对所述干涉仪天线阵进行校正，获取所述干涉仪天线阵在不同极化状态下的阵列流型；通过干涉仪测向方法测量来波方向，根据所述阵列流型和来波方向获取来波方向对应的校正值；根据来波方向对应的校正值，计算得到所述来波的极化参数。本发明无需要求两个天线单元正交且相位中心重合，无需要求天线旋转90°，对天线本身极化纯度和天线阵平台环境不敏感，适用于超宽带、大视场范围的极化测量，其结合天线阵本身的校正值和来波测向结果，可以较为方便、准确的实时测量来波信号的极化特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 阵列 测向 精度 极化 测量方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十九研究所，未经中国电子科技集团公司第二十九研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210336985.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
