[发明专利]用于提高阵列测向精度的极化测量方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种用于提高阵列测向精度的极化测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、构建干涉仪天线阵，在传统单极化干涉仪天线阵中增加一个不同极化的天线单元或多个不同极化的天线单元；

步骤2、对所述干涉仪天线阵进行校正，获取所述干涉仪天线阵在不同极化状态下的阵列流型，对所述干涉仪天线阵进行校正包括对所述干涉仪天线阵进行水平和垂直极化校正或其它正交极化校正；

步骤3、通过干涉仪测向方法测量来波方向，根据所述阵列流型和来波方向获取来波方向对应的校正值；

步骤4、根据来波方向对应的校正值，通过极化分解计算水平极化分量和垂直极化分量，从而得到所述来波的极化参数，具体计算过程如下：

假设某干涉仪天线阵包含N个天线，其中第1~N-1个天线极化相同，第N个天线与其它N-1个天线极化不同，不一定极化正交，采用传统干涉仪方法测得来波方位为θ；

第i单元在θ方向接收水平极化波和垂直极化波的响应分别为和，即阵列单元i在θ方向的方向图，同时第i单元在θ方向接收来波的响应分别为，上述三个数均是复数，令

（5）

（7）

（11）

（12）

其中下标Re表示实部，Im表示虚部；

（14）

（15）

上式中P是一个2Nx4的实矩阵，Q是一个2Nx1实矩阵，Y是一个4x1的实矩阵；

通过下式计算来波的极化参数γ和η；

（16）

上式中Y括号里面数表示矩阵Y中元素序号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述阵列流型包括校正的角度范围与测向视场范围一致，校正的频段与要求的测量频段一致，阵列流型处理为表格。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述来波方向为来波真实方向和测向误差之和。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述阵列流型获取来波方向对应的校正值，包括：

设定与来波方向最为接近的校正角度，从阵列流型中获取来波方向对应的校正值。

5.一种基于权利要求1-4任一项所述的用于提高阵列测向精度的极化测量方法的系统，其特征在于，所述系统包括：

构建模块，用于构建干涉仪天线阵；

获取模块，用于对干涉仪天线阵进行校正，获取干涉仪天线阵在不同极化状态下的阵列流型；

校正模块，用于通过干涉仪测向方法测量来波方向，根据阵列流型获取来波方向对应的校正值；

计算模块，用于根据来波方向对应的校正值，通过极化分解计算水平极化分量和垂直极化分量，从而得到来波的极化参数。

6.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-4任一项所述的方法。