[发明专利]利用涡旋光变形测量物体位移的方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202210334039.1 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN114894097A | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 黎芳;蒋韬;王坚;韩厚增;白羽 | 申请（专利权）人： | 北京建筑大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人： | 张阳 |
| 地址： | 100044*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用涡旋光变形测量物体位移的方法、装置及系统，该方法包括：信息发射子系统发射预先调制的涡旋波束；信息接收子系统接收涡旋波束，以及根据涡旋波束得到对应的光斑图像；根据图像匹配法进行匹配，得到与光斑图像匹配的历史光斑图像；图像库存储有历史光斑图像及历史光斑图像对应的收发端位移，收发端位移由历史光斑图像的光斑横向偏移计算得到，且历史光斑图像与光斑图像对应的传播距离相同；获取收发端位移作为目标物体的位移。本发明实施例通过光斑横向偏移计算方式建立图像库，在实际测量中进行图像匹配，通过匹配图像的收发端位移确定物体位移，可以降低位移测量的计算复杂程度。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 涡旋 变形 测量 物体 位移 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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