[发明专利]用于确定晶体结构的方法和系统在审
| 申请号： | 202210330502.5 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN115144421A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | B·布伊泽;H·拉伊马克斯;P·C·蒂梅耶 | 申请（专利权）人： | FEI公司 |
| 主分类号： | G01N23/20058 | 分类号： | G01N23/20058;G01N23/2055 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;周学斌 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于确定晶体结构的方法和系统。晶体的分子结构可以基于从样品获取的至少两个衍射倾斜系列来求解。所述两个衍射倾斜系列包含在不同电子剂量下获取的所述样品的至少一个晶体的多个衍射图案。在一些实例中，所述两个衍射倾斜系列是在不同的放大率下获取的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 晶体结构 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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