[发明专利]半导体器件和在半导体器件上形成多层屏蔽结构的方法在审
申请号: | 202210325335.5 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN115332089A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | C·O·金;J·H·郑;J·W·李;Y·J·张 | 申请(专利权)人: | 星科金朋私人有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L23/552;H01L23/31 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 申屠伟进;陈岚 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开涉及半导体器件和在半导体器件上形成多层屏蔽结构的方法。半导体器件具有衬底和设置在衬底上的电元器件。封装剂设置在衬底和电元器件上。在封装剂上形成多层屏蔽结构。多层屏蔽结构具有铁磁材料的第一层和保护层或导电层的第二层。铁磁材料可以是铁、镍、镍铁合金、铁硅合金、硅钢、镍铁钼合金、镍铁钼铜合金、铁硅铝合金、镍锌、锰锌、其他铁氧体、非晶磁性合金、非晶金属合金或纳米晶合金。第一层可以是单个、均质材料。保护层可以是不锈钢、钽、钼、钛、镍或铬。导电层可以是铜、银、金或铝。多层屏蔽结构保护电元器件免受低频和高频干扰。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 形成 多层 屏蔽 结构 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于星科金朋私人有限公司,未经星科金朋私人有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210325335.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:多视图三维重建方法及装置
- 下一篇:集成电路和半导体存储系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造