[发明专利]半导体器件和在半导体器件上形成多层屏蔽结构的方法在审

专利信息
申请号: 202210325335.5 申请日: 2022-03-30
公开(公告)号: CN115332089A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: C·O·金;J·H·郑;J·W·李;Y·J·张 申请(专利权)人: 星科金朋私人有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L23/552;H01L23/31
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 申屠伟进;陈岚
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及半导体器件和在半导体器件上形成多层屏蔽结构的方法。半导体器件具有衬底和设置在衬底上的电元器件。封装剂设置在衬底和电元器件上。在封装剂上形成多层屏蔽结构。多层屏蔽结构具有铁磁材料的第一层和保护层或导电层的第二层。铁磁材料可以是铁、镍、镍铁合金、铁硅合金、硅钢、镍铁钼合金、镍铁钼铜合金、铁硅铝合金、镍锌、锰锌、其他铁氧体、非晶磁性合金、非晶金属合金或纳米晶合金。第一层可以是单个、均质材料。保护层可以是不锈钢、钽、钼、钛、镍或铬。导电层可以是铜、银、金或铝。多层屏蔽结构保护电元器件免受低频和高频干扰。
搜索关键词: 半导体器件 形成 多层 屏蔽 结构 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于星科金朋私人有限公司,未经星科金朋私人有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210325335.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top