[发明专利]缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202210281601.9 | 申请日： | 2022-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN114627089A | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数之联科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/774;G06V10/74 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 梁韬 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，涉及缺陷检测技术领域。通过获取待检测OLED面板的初始图片，将初始图片输入预先训练的缺陷识别模型以得到初步识别结果，初步识别结果包括缺陷的类型及缺陷的置信度；判断置信度大于对应缺陷类型所预设的置信度阈值的全部缺陷是否存在至少两个预设类型的第一缺陷；若存在至少两个第一缺陷，计算各第一缺陷与对应的缺陷模板的相似度，获取第一缺陷的目标缺陷类型，第一缺陷的目标缺陷类型为与第一缺陷的相似度最大的缺陷模板对应的缺陷类型，目标缺陷类型作为初始图片的输出结果。通过本实施例提供的缺陷识别方法，能够提高判图的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 识别 方法 装置 计算机 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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