[发明专利]表面检查装置、存储介质及表面检查方法在审
| 申请号： | 202210278447.X | 申请日： | 2022-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN115791785A | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 宇野美穂;福永和哉;桑田良隆 | 申请（专利权）人： | 富士胶片商业创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨文娟;刘芳 |
| 地址： | 日本东京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感，所述处理器将表示所述物体的质感的符号显示在多维分布图上的坐标位置。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 检查 装置 存储 介质 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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