[发明专利]表面检查装置、存储介质及表面检查方法

说明书

一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感，所述处理器将表示所述物体的质感的符号显示在多维分布图上的坐标位置。

技术领域

本发明涉及一种表面检查装置、存储介质及表面检查方法。

背景技术

目前，在各种产品中，使用将合成树脂成型而成的组件(以下称为“成型品”)。成型品的质感根据颜色、光泽及形成于表面的微小的凹凸等而变化。

专利文献1：日本专利第6564660号公报

专利文献2：日本特开2012-002704号公报

质感是决定外观的印象的项目之一。因此，在开发阶段设有检查成型品的质感的工序，要求缩短作业。另外，在由多个成型品构成的产品的情况下，还要求在多个成型品之间质感的均匀性的检查。

另外，以往的外观检查装置仅使用L*a*b*的颜色信息来评价质感，但在基于该方法的评价中，难以评价由如纹理之类的微小的凹凸产生的质感。

发明内容

本发明的目的在于，与仅用评价值显示物体表面的质感的情况相比，容易确认物体表面的质感。

方案1所述的发明为表面检查装置，其具有：摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感，所述处理器将表示所述物体的质感的符号显示在多维分布图上的坐标位置。

方案2所述的发明在方案1所述的表面检查装置中，所述多维分布图中显示多个所述符号。

方案3所述的发明在方案2所述的表面检查装置中，多个所述符号中的一个是表示作为基准的物体的质感的符号，其他是表示作为检查对象的物体的质感的符号。

方案4所述的发明在方案1所述的表面检查装置中，所述多维分布图中显示赋予相对于作为基准的所述物体的质感差的允许范围的标识。

方案5所述的发明在方案4所述的表面检查装置中，所述标识的显示和不显示通过预先确定的操作来切换。

方案6所述的发明在方案4所述的表面检查装置中，根据允许范围的阶段，同心地显示多个所述标识。

方案7所述的发明在方案4至6中任一项所述的表面检查装置中，所述标识为矩形。

方案8所述的发明在方案4至6中任一项所述的表面检查装置中，所述标识为椭圆或圆形。

方案9所述的发明在方案4至6中任一项所述的表面检查装置中，所述标识的形状通过预先确定的操作来切换。

方案10所述的发明在方案1所述的表面检查装置中，所述坐标位置由表示来自物体表面的宏观反射光成分的质感的第1值和表示来自物体表面的微观反射光成分的质感的第2值规定。

方案11所述的发明在方案10所述的表面检查装置中，所述第1值根据来自物体表面的镜面反射成分的图像和漫反射成分的图像来计算，所述第2值根据来自物体表面的镜面反射成分的图像来计算。

方案12所述的发明在方案10所述的表面检查装置中，所述处理器在画面上显示所述第1值和所述第2值。

方案13所述的发明在方案12所述的表面检查装置中，所述处理器在画面上显示表示使用所述第1值和所述第2值计算出的两个物体的质感差的数值。

方案14所述的发明在方案13所述的表面检查装置中，所述处理器计算表示所述两个物体的色差的信息及表示所述质感差的数值。