[发明专利]表面检查装置、存储介质及表面检查方法

权利要求书

1.一种表面检查装置，其具有：

摄像器件，拍摄作为检查对象的物体表面；及

处理器，通过由所述摄像器件拍摄的图像的处理来计算所述物体的质感，

所述处理器将表示所述物体的质感的符号显示在多维分布图上的坐标位置。

2.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，

所述多维分布图中显示多个所述符号。

3.根据权利要求2所述的表面检查装置，其中，

多个所述符号中的一个是表示作为基准的物体的质感的符号，其他是表示作为检查对象的物体的质感的符号。

4.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，

所述多维分布图中显示赋予相对于作为基准的所述物体的质感差的允许范围的标识。

5.根据权利要求4所述的表面检查装置，其中，

所述标识的显示和不显示通过预先确定的操作来切换。

6.根据权利要求4所述的表面检查装置，其中，

根据允许范围的阶段，同心地显示多个所述标识。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的表面检查装置，其中，

所述标识为矩形。

8.根据权利要求4至6中任一项所述的表面检查装置，其中，

所述标识为椭圆或圆形。

9.根据权利要求4至6中任一项所述的表面检查装置，其中，

所述标识的形状通过预先确定的操作来切换。

10.根据权利要求1所述的表面检查装置，其中，

所述坐标位置由表示来自物体表面的宏观的反射光成分的质感的第1值和表示来自物体表面的微观的反射光成分的质感的第2值规定。

11.根据权利要求10所述的表面检查装置，其中，

所述第1值根据来自物体表面的镜面反射成分的图像和漫反射成分的图像来计算，

所述第2值根据来自物体表面的镜面反射成分的图像来计算。

12.根据权利要求10所述的表面检查装置，其中，

所述处理器在画面上显示所述第1值和所述第2值。

13.根据权利要求12所述的表面检查装置，其中，

所述处理器在画面上显示表示使用所述第1值和所述第2值计算出的两个物体的质感差的数值。

14.根据权利要求13所述的表面检查装置，其中，

所述处理器计算表示所述两个物体的色差的信息及表示所述质感差的数值。

15.一种存储介质，其存储有用于使对用摄像器件拍摄作为检查对象的物体的表面的图像进行处理的计算机实现如下功能的程序：

计算所述物体的质感的功能；及

在多维分布图上的坐标位置显示表示所述物体的质感的符号的功能。

16.一种表面检查方法，其包括如下步骤：

计算物体的质感；及

在多维分布图上的坐标位置显示表示所述物体的质感的符号。