[发明专利]芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210271551.6 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN114626267A | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 林炜彦;肖乐 | 申请（专利权）人： | 上海闻泰信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23;G06F30/27;G06N3/04;G06N3/08;G06F113/18;G06F119/02 |
| 代理公司： | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人： | 杨中强;万振雄 |
| 地址： | 200062 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开一种芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：将主板的多个真实跌落姿态输入到训练完成的芯片失效分析模型；主板包括一个或多个测试芯片；通过芯片失效分析模型输出每个真实跌落姿态下各个测试芯片受到的预测应力值，并根据每个真实跌落姿态下各个测试芯片受到的预测应力值生成与每个真实跌落姿态对应的预测应力值数组；从主板中检测到一个或多个失效芯片时，根据每个失效芯片在多个真实跌落姿态分别对应的预测应力值数组中的预测应力值，确定出导致失效芯片失效的目标跌落姿态。实施本申请实施例，能够准确、高效地复现芯片的失效场景，从而实现对芯片的失效分析。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 失效 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海闻泰信息技术有限公司，未经上海闻泰信息技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210271551.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种中药净痘微晶贴及其制备方法
- 下一篇：一种复合型抗磁云母纸
