[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210252416.7 | 申请日： | 2022-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN116797513A | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 刘俊星 | 申请（专利权）人： | 合肥欣奕华智能机器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/74 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 230013 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域，解决了相关技术中通过人工识别的方式检测缺陷的方法可能会导致检测出缺陷的时间周期较长，影响缺陷检测的效率的技术问题。该方法包括：对待检测电路板进行图像扫描处理，得到至少一个扫描图像；从该至少一个扫描图像中各个扫描图像包括的多个待识别图像中，确定至少一个待检测区域图像，其中，一个待检测区域图像与第一模板图像之间的相似度大于或等于相似度阈值；基于第一待检测区域图像以及该第一模板图像进行对比分析，确定该第一待检测区域图像中是否存在缺陷，该第一待检测区域图像为该至少一个待检测区域图像中的一个。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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