[发明专利]芯片总线的检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202210200286.2 | 申请日： | 2022-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN115994057A | 公开（公告）日： | 2023-04-21 |
| 发明（设计）人： | 崔昭华 | 申请（专利权）人： | 北京爱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 杜月 |
| 地址： | 100190 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种芯片总线的检测方法、装置、电子设备和存储介质，其中，芯片总线的检测方法包括：响应于检测到延迟检测事件，获取芯片中总线节点的时钟信息；控制芯片的主设备和从设备之间进行总线节点的多个信号的传输，其中，每个信号包括标签；根据时钟信息，确定多个信号的传输开始时间，以及多个信号的传输结束时间；根据标签、多个信号的传输开始时间和多个信号的传输结束时间，确定每个信号对应的目标传输开始时间和目标传输结束时间；根据目标传输开始时间和目标传输结束时间，确定总线节点的延迟值。由此，能够检测出芯片总线节点的延迟值，从而验证芯片总线的传输性能。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 总线 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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