[发明专利]芯片总线的检测方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种芯片总线的检测方法，其特征在于，包括：

响应于检测到延迟检测事件，获取芯片中总线节点的时钟信息；

控制所述芯片的主设备和从设备之间进行所述总线节点的多个信号的传输，其中，每个所述信号包括标签；

根据所述时钟信息，确定所述多个信号的传输开始时间，以及所述多个信号的传输结束时间；

根据所述标签、所述多个信号的传输开始时间和所述多个信号的传输结束时间，确定每个所述信号对应的目标传输开始时间和目标传输结束时间；

根据所述目标传输开始时间和所述目标传输结束时间，确定所述总线节点的延迟值。

2.根据权利要求1所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，其中，所述标签为地址通道ID，所述主设备包括总线协议AXI主设备，所述从设备包括总线协议AXI从设备，所述信号为AXI传输信号。

3.根据权利要求1所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，所述根据所述时钟信息，确定所述多个信号的传输开始时间，以及所述多个信号的传输结束时间，包括：

针对每个所述信号，当所述信号传输开始时，根据所述时钟信息确定所述总线节点的时钟信号的上升沿对应的第一时刻，并将所述第一时刻作为所述信号对应的传输开始时间；

针对每个所述信号，当所述信号传输结束时，根据所述时钟信息确定所述总线节点的时钟信号的上升沿对应的第二时刻，并将所述第二时刻作为所述信号对应的传输结束时间。

4.根据权利要求1所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，所述根据所述标签、所述多个信号的传输开始时间和所述多个信号的传输结束时间，确定每个所述信号对应的目标传输开始时间和目标传输结束时间，包括：

以所述标签为索引，从所述多个信号的传输开始时间和所述多个信号的传输结束时间之中进行查询，以确定每个所述信号对应的目标传输开始时间和目标传输结束时间。

5.根据权利要求1所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，还包括：

在控制所述芯片的主设备和从设备之间进行所述总线节点的多个信号的传输的过程中，获取所述总线节点的超前传输值；

若所述超前传输值大于预设的超前传输参数值，则生成相应的提示信息。

6.根据权利要求1所述的芯片总线的检测方法，其特征在于，还包括：

若接收到延迟检测请求，则确定检测到所述延迟检测事件。

7.一种芯片总线的检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于响应于检测到延迟检测事件，获取芯片中总线节点的时钟信息；

控制模块，用于控制所述芯片的主设备和从设备之间进行所述总线节点的多个信号的传输，其中，每个所述信号包括标签；

第一确定模块，用于根据所述时钟信息，确定所述多个信号的传输开始时间，以及所述多个信号的传输结束时间；

第二确定模块，用于根据所述标签、所述多个信号的传输开始时间和所述多个信号的传输结束时间，确定每个所述信号对应的目标传输开始时间和目标传输结束时间；

第三确定模块，用于根据所述目标传输开始时间和所述目标传输结束时间，确定所述总线节点的延迟值。

8.根据权利要求7所述的芯片总线的检测装置，其特征在于，其中，所述标签为地址通道ID，所述主设备包括总线协议AXI主设备，所述从设备包括总线协议AXI从设备，所述信号为AXI传输信号。

9.根据权利要求7所述的芯片总线的检测装置，其特征在于，所述第一确定模块，具体用于：

针对每个所述信号，当所述信号传输开始时，根据所述时钟信息确定所述总线节点的时钟信号的上升沿对应的第一时刻，并将所述第一时刻作为所述信号对应的传输开始时间；

针对每个所述信号，当所述信号传输结束时，根据所述时钟信息确定所述总线节点的时钟信号的上升沿对应的第二时刻，并将所述第二时刻作为所述信号对应的传输结束时间。