[发明专利]存储芯片的测试方法、装置、存储介质与电子设备在审
| 申请号： | 202210198602.7 | 申请日： | 2022-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN114582412A | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 刘东 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 赵新龙 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种存储芯片的测试方法、装置、存储介质与电子设备，属于半导体技术领域。所述方法包括：在所述待测存储芯片的存储单元中写入测试数据；从所述存储单元中读取存储数据；根据所述测试数据与所述存储数据，生成所述待测存储芯片的测试结果；其中，从所述存储单元中读取存储数据过程中，行选通脉冲预充电时间小于所述待测存储芯片的标准行选通脉冲预充电时间，和/或，所述待测存储芯片当前的感测延迟时间小于所述待测存储芯片的标准感测延迟时间。本公开可以提高存储芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司，未经长鑫存储技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210198602.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种浓度调节式麻醉装置
- 下一篇：一种建筑用爬架网片翻新自动拆卸装置
