[发明专利]一种基于多角度正弦条纹光场融合的相移轮廓术

摘要

基于光场的三维测量由于有较好的精度、速度和检测范围成为工业三维检测的主流技术之一，和正弦条纹相位移轮廓术结合可以有效提高检测精度。本发明提出了一种基于多角度正弦条纹光场融合的相移轮廓术，该方法首先基于微透镜阵列的光场成像系统收集一组或者多组正弦相移条纹，图像校准后计算出每个子孔径图像的绝对相位，基于相位贡献权重的选择融合的子孔径，然后结合了角度、距离和相似度的融合相位，相位映射到高度后通过矫正填充到点云数据，最后通过多角度的点云融合填充到点云矩阵，进一步，提出了与之对应的微透阵列校准标定、相机标定和相位‑高度映射标定方法。