[发明专利]一种半导体激光器单发光点性能测试系统在审
| 申请号： | 202210148210.X | 申请日： | 2022-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN114674533A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 冯晨阳;沈牧;房玉锁;王媛媛;杨红伟;孙芮;李松松;崔绍晖;申正坤;霍现荣;魏爱新;庞帅;张港 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 柳萌 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器单发光点性能测试系统，属于激光器测试设备技术领域，包括位移平台、聚焦耦合结构、光纤接收器以及性能测试器，位移平台上设有与半导体激光器相对应的狭缝，狭缝用于半导体激光器上的单个发光点的光束穿过，聚焦耦合结构与狭缝相对应，用于对光束进行准直且压缩，光纤接收器设于聚焦耦合结构的焦点处，用于接收聚焦压缩后的光束，光纤接收器的光纤芯径尺寸大于经过压缩后的光束的光斑尺寸，性能测试器与光纤接收器相连接，用于测量和分析光束的性能指标。本发明提供的半导体激光器单发光点性能测试系统，各发光点的光束可以独立进行测试，提高了该测试系统的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 发光 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
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