[发明专利]一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法在审
| 申请号： | 202210138326.5 | 申请日： | 2022-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN114527371A | 公开（公告）日： | 2022-05-24 |
| 发明（设计）人： | 张新雅 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 徐琳;吴世华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法，该装置用于执行X个测试流，每一个测试流包括N个测试项，每个测试项包括M个配置指令；上位机所包括的配置文件产生模块将X*N*M配置指令按一预定顺序形成配置指令文件集；配置指令文件集中的每一条配置指令包括待配置文件类型标识、指令功能、寄存器地址、交互数据、指令调度顺序和/或指令执行条件；在启动测试前，上位机下发配置指令文件内容、文件名和待存储位置，下位机接收并缓存于指定位置且将其命名为上述文件名，待下位机收到开始测试的指令后，从约定位置读取配置指令文件，利用语法解析器解析配置指令文件，调取相应的功能指令，并发送给相应的指令执行单元。因此，本发明缩短软硬件之间的通信交互次数，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提升 ate 芯片 测试 速度 装置 方法 | ||
【主权项】：
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