[发明专利]一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法

权利要求书

1.一种提升ATE芯片测试速度的装置，所述装置用于执行X个测试流，每一个测试流包括N个测试项，每个所述测试项包括M个配置指令；其特征在于，所述装置包括上位机、下位机和指令执行单元；

所述上位机包括配置文件产生模块；所述配置文件产生模块将X*N*M配置指令按一预定顺序形成配置指令文件集；所述配置指令文件集中的每一条配置指令包括待配置文件类型标识、指令功能、寄存器地址、交互数据、指令调度顺序和/或指令执行条件；

在启动测试前，上位机下发配置指令文件内容、文件名和待存储位置，下位机接收并缓存于指定位置且将其命名为上述文件名待所述下位机收到开始测试的指令后，从约定位置读取配置指令文件，利用语法解析器解析所述配置指令文件，调取相应的功能指令，并发送给相应的指令执行单元。

2.根据权利要求1所述的提升ATE芯片测试速度的装置，其特征在于，所述预定顺序为时间顺序或优先级顺序。

3.根据权利要求1所述的提升ATE芯片测试速度的装置，其特征在于，所述下位机通过以太网与所述上位机进行连接，使用TCP/IP协议进行数据交互。

4.根据权利要求1所述的提升ATE芯片测试速度的装置，其特征在于，从所述上位机传输来的所述配置指令文件集暂存于资源板卡的DDR内。

5.一种提升ATE芯片测试速度的方法，其采用权利要求1-4任意一个所述的提升ATE芯片测试速度的装置，其特征在于，包括：

步骤S1：将X*N*M配置指令按一预定顺序形成配置指令文件集；所述配置指令文件集中的每一条配置指令包括待配置文件类型标识、指令功能、寄存器地址、交互数据、指令调度顺序和/或指令执行条件；

步骤S2：在启动测试前，所述下位机接收并缓存从所述上位机传输来的配置指令文件集；

步骤S3：待所述下位机收到开始测试的指令后，从约定位置读取配置指令文件，利用语法解析器解析所述配置指令文件，调取相应的功能指令，并发送给相应的指令执行单元。

6.根据权利要求5所述的提升ATE芯片测试速度的方法，其特征在于，还包括步骤S4：根据配置指令文件，所述指令执行单元执行所述执行X个测试流。