[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202210123306.0 | 申请日： | 2022-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN114155244B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 黄耀;胡中慧 | 申请（专利权）人： | 北京阿丘科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 冯会 |
| 地址： | 100089 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于检测技术领域，公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取无缺陷图像和目标检测图像；根据预设缺陷样本生成模型对所述无缺陷图像进行缺陷生成，得到仿真缺陷样本；根据所述仿真缺陷样本对所述目标检测图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。通过上述方式，根据预设缺陷样本生成模型和无缺陷图像进行缺陷生成得到仿真缺陷样本，通过大量仿真缺陷样本图像对缺陷样本图像集进行增广，增大了缺陷样本数量，利用数量增加后的缺陷样本对目标检测图像进行检测识别，提高了小样本缺陷检测时的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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