[发明专利]芯片验证系统、方法及存储介质在审
| 申请号： | 202210113110.3 | 申请日： | 2022-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN114444422A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 连络;侯化成;徐宁仪 | 申请（专利权）人： | 上海阵量智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F13/28;G06F15/78 |
| 代理公司： | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人： | 袁忠林 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片验证系统、方法及存储介质，该系统包括：测试模块包含的至少一个第一组件，用于产生控制待验模块访问存储器的第一激励信号，将第一激励信号发送给待验模块；具有直接存储器访问DMA功能的待验模块，用于生成第一激励信号对应的访问请求；并将访问请求发送给测试模块包含的第二组件；测试模块包含的至少一个第二组件，用于在接收到访问请求后，将访问请求发送给存储模块；以及接收存储模块根据访问请求进行目标操作后返回的操作信息，并将操作信息发送给验证模块；验证模块，用于根据接收到的操作信息，对待验模块进行读写结果校验，得到读写校验结果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 系统 方法 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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