[发明专利]一种轴承套圈荧光磁粉探伤图像缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210099402.6 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN114428110A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 杨芸;杨耀;彭广;闵洲;邱少雄 申请(专利权)人: 东华大学
主分类号: G01N27/84 分类号: G01N27/84;G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 赵兴华
地址: 200051 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及图像检测领域,特别是涉及一种轴承套圈荧光磁粉探伤图像缺陷检测方法及系统,该方法包括:从各轴承套圈的荧光磁粉探伤图片中截取设定分辨率的荧光磁粉图像块作为数据集;数据集包括包含裂纹磁痕的荧光磁粉图像块和不包含裂纹磁痕的荧光磁粉图像块;构建改进的MobileNetV3模型;改进的MobileNetV3模型中瓶颈层的注意力模块为CA注意力模块;对改进的MobileNetV3模型进行训练获得缺陷检测模型;获得待检测荧光磁粉探伤图像;通过图像处理算法确定待检测荧光磁粉探伤图像的疑似裂纹区域,获得待检测图像块;根据陷检测模型获得待检测图像块的检测结果。本发明通过降低计算量提高了缺陷检测效率。
搜索关键词: 一种 轴承 荧光 探伤 图像 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
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