[发明专利]一种测试杂散光的方法及装置有效
| 申请号： | 202210085286.2 | 申请日： | 2022-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN114112330B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 洪志坤;宁谦;郑增强;欧昌东;刘荣华 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测试杂散光的方法及装置，涉及杂散光的测试评估领域，该方法包括以下步骤：获取设定位置下的每个局部发光区域产生的杂散光对待测成像系统的全视野亮度的影响；根据所有局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响，得到杂散光对待测成像系统的影响位置与大小。本发明中的测试杂散光的方法可以定位、定量分析杂散光影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 散光 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210085286.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于倒装LED芯片的封装结构
- 下一篇：一种基于图片的外观检测方法及系统
