[发明专利]一种测试杂散光的方法及装置

权利要求书

1.一种测试杂散光的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

将拍摄照片时的全视野划分成多个片区，计算拍摄的照片的灰阶与光源所在局部区域的灰阶的比值，得到光源在该局部区域上产生的杂散光对各个片区亮度的百分比影响，以获取设定位置下的每个局部发光区域产生的杂散光对待测成像系统的全视野亮度的影响；

根据所有局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响，得到杂散光对待测成像系统的影响位置与大小。

2.如权利要求1所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述将拍摄照片时的全视野划分成多个片区，计算拍摄的照片的灰阶与光源所在局部区域的灰阶的比值，得到光源在该局部区域上产生的杂散光对各个片区亮度的百分比影响，以获取设定位置下的每个局部发光区域产生的杂散光对待测成像系统的全视野亮度的影响，包括：

将光源放置在一个局部区域上；

拍摄照片，并将拍摄照片时的全视野划分成多个片区，计算拍摄的照片的灰阶与光源所在局部区域的灰阶的比值，得到光源在该局部区域上产生的杂散光对各个片区亮度的百分比影响；

移动光源，以获取光源在每个局部区域上产生的杂散光对对应的照片的各个片区亮度的影响。

3.如权利要求2所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于：

将全视野等分为n*m个片区，其中n和m为正整数。

4.如权利要求2所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述设定位置下的每个局部发光区域为全视野所划分成的多个片区。

5.如权利要求2所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述设定位置下的每个局部发光区域在所述全视野外。

6.如权利要求1所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述根据所有局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响，包括：

将离散的每个局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响数据进行平滑处理与像素影响分离，以得到连续的全视野亮度影响数据。

7.如权利要求3所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述方法还包括对杂散光的校正步骤，其包括：

拍摄待测照片，基于待测照片的灰度和每个局部区域下杂散光对全视野亮度的影响，对待测照片进行校正。

8.如权利要求7所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，所述拍摄待测照片，基于待测照片的灰度和每个局部区域下杂散光对全视野亮度的影响，对待测照片进行校正，包括：

拍摄待测照片，并将所述待测照片的拍摄视野按所述n*m个片区进行划分；

基于划分的片区，生成待测照片的灰度矩阵；

对每个局部区域下杂散光对拍摄的照片的全幅面亮度的影响进行叠加，得到杂散光对各个片区亮度总的百分比影响；

基于待测照片的灰度矩阵和杂散光对各个片区亮度总的百分比影响，得到待测照片的杂散光影响大小矩阵；

根据待测照片的灰度矩阵和杂散光影响大小矩阵，对待测照片进行校正。

9.如权利要求8所述的一种测试杂散光的方法，其特征在于，根据待测照片的灰度矩阵和杂散光影响大小矩阵，对待测照片进行校正，包括：

将待测照片的灰度矩阵减去杂散光影响大小矩阵，得到杂散光校正图像矩阵；

以杂散光校正图像矩阵为基准，并根据杂散光对各个片区亮度总的百分比影响，得到迭代的待测照片的杂散光影响大小矩阵；

将杂散光校正图像矩阵减去迭代的待测照片的杂散光影响大小矩阵，得到迭代的杂散光校正图像矩阵；

重复迭代过程，直到迭代的杂散光校正图像矩阵的改变量达到限制的阈值。

10.一种测试杂散光的装置，其特征在于，包括：

采集模块，其用于将拍摄照片时的全视野划分成多个片区，计算拍摄的照片的灰阶与光源所在局部区域的灰阶的比值，得到光源在该局部区域上产生的杂散光对各个片区亮度的百分比影响，以获取设定位置下的每个局部发光区域产生的杂散光对待测成像系统的全视野亮度的影响；

计算模块，其用于根据所有局部发光区域产生的杂散光对全视野亮度的影响，得到杂散光对待测成像系统的影响位置与大小。