[发明专利]检查系统、检查方法及检查程序在审
| 申请号： | 202210073166.0 | 申请日： | 2022-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN114894801A | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 木川洋一;陈日飞 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/956;G06T7/00;G06V10/774;G06K9/62;G06N5/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种检查系统、检查方法及检查程序，其用于降低检查员在检查系统中的工作负担。该检查系统包括：图像再现部，以从第一遮盖图像再现遮盖前的第一图像的方式被进行了训练，所述第一遮盖图像通过将拍摄检查对象物而得到的图像之中的、判断为未包含缺陷的第一图像的一部分遮盖而生成；以及判定部，基于通过将第二遮盖图像输入至所述图像再现部而再现的再现图像、以及第二图像，对在所述第二图像中是否包含缺陷进行判定，所述第二遮盖图像通过将拍摄新的检查对象物而得到的所述第二图像的一部分遮盖而生成。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 系统 方法 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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