[发明专利]一种外场光谱仪采集数据质量的评估方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210063548.5 申请日: 2022-01-20
公开(公告)号: CN114383729A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 李玲;代彩红;吴志峰;王彦飞;谢一航;程秋桐;许超群 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 于彬
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供了一种外场光谱仪采集数据质量的评估方法及装置,包括:获取光谱仪所采集到的外场光谱辐射测量数据以及至少一项影响因素的外场参数,并确定每项影响因素的校正系数和校正系数的不确定度;利用光谱仪的实验室定标系数、每项校正系数以及外场光谱辐射测量数据,确定光谱仪的外场测量结果;基于实验室定标系数的不确定度、外场光谱辐射测量数据的不确定度和每项校正系数的不确定度,确定用于评估外场测量结果的合成标准不确定度。这样,本申请通过确定出各项影响因素的校正系数并对外场光谱辐射测量数据进行校正,提高了外场测量结果的准确度,通过确定出合成标准不确定度可以有效的评估外场测量结果的可靠性,从而有利于实现高精度定标。
搜索关键词: 一种 外场 光谱仪 采集 数据 质量 评估 方法 装置
【主权项】:
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