[发明专利]基于FPGA的深度学习电阻抗成像系统及成像评价方法有效
| 申请号： | 202210051699.9 | 申请日： | 2022-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN114544708B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 舒琳;吴昶杨;徐向民;吴晓茵 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 周春丽 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA的深度学习端对端式电阻抗成像系统及新型成像评价方法，系统以FPGA为核心板，在FPGA移植微处理器内核，实现数据采集模块、深度学习算法模块以及成像显示模块。所述数据采集模块用于注入激励电流和采集电压数据并对电压数据进行降噪处理；所述深度学习模块用于处理采集的电压数据，将其还原成重建图像。本发明采用FPGA作为主控，发挥其并行计算的优势，加速深度学习算法模块实现；引入微处理器提高所述电阻抗成像系统的运行效率；深度学习算法模块解决传统算法成像精度不高的问题，降低逆问题的不适定性。新型评价方法解决常用的ICC评价方法无法准确评价原始图像与重建图像位置准确度的缺点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 深度 学习 阻抗 成像 系统 评价 方法 | ||
【主权项】：
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