[发明专利]一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺在审

专利信息
申请号: 202210018051.1 申请日: 2022-01-07
公开(公告)号: CN114351250A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 杨秀凡;张殿喜;郭中正;窦忠宇;闫万珺 申请(专利权)人: 安顺学院
主分类号: C30B28/06 分类号: C30B28/06;C30B29/06
代理公司: 贵阳索易时代知识产权代理事务所(普通合伙) 52117 代理人: 吕景新
地址: 561000 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明涉及多晶硅技术领域,尤其是一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺,该晶体长晶段工艺为7段,即G1—G7。其中,G1‑G2为晶体生长初期,为给硅熔体提供形核驱动动力,G3—G5为晶体生长中期,G6‑G7为晶体生长后期,利用该工艺进行铸锭可降低晶体结晶学缺陷,降低杂质,提高晶体少数载流子寿命等电学性能,提高晶体质量,促进企业降本增效,促进光伏太阳能的发展。
搜索关键词: 一种 控制 生长 速率 提高 铸锭 多晶 晶体 质量 工艺
【主权项】:
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