[发明专利]一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺在审

专利信息
申请号: 202210018051.1 申请日: 2022-01-07
公开(公告)号: CN114351250A 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 杨秀凡;张殿喜;郭中正;窦忠宇;闫万珺 申请(专利权)人: 安顺学院
主分类号: C30B28/06 分类号: C30B28/06;C30B29/06
代理公司: 贵阳索易时代知识产权代理事务所(普通合伙) 52117 代理人: 吕景新
地址: 561000 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 控制 生长 速率 提高 铸锭 多晶 晶体 质量 工艺
【说明书】:

发明涉及多晶硅技术领域,尤其是一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺,该晶体长晶段工艺为7段,即G1—G7。其中,G1‑G2为晶体生长初期,为给硅熔体提供形核驱动动力,G3—G5为晶体生长中期,G6‑G7为晶体生长后期,利用该工艺进行铸锭可降低晶体结晶学缺陷,降低杂质,提高晶体少数载流子寿命等电学性能,提高晶体质量,促进企业降本增效,促进光伏太阳能的发展。

技术领域

本发明涉及多晶硅技术领域,尤其是一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺。

背景技术

在众多光伏太阳能电池材料中,铸锭多晶硅由于其矿产含量丰富、生产成本低、产品质量高等原因成为光伏太阳能电池的主要材料。因此,人们加大了对铸锭多晶硅的研究,从各方面提高铸锭多晶硅晶体质量,提高铸锭多晶硅电池转换效率,从而有利于光伏太阳能的发展。

晶体生长速率影响杂质在晶体中的分凝,生长速率的快慢影响杂质分凝排杂的充分性以及晶粒的大小和数量,对晶体少数载流子寿命等电学性能产生重要影响。导致现有技术中晶体生长控制方法容易导致晶体结晶学缺陷、杂质多、晶体少数载流子寿命低等问题。铸锭多晶硅晶体生长工艺包括加热、融化、长晶、退火、冷却等步骤,其中长晶段对晶体质量具有决定性作用。晶体生长过程也是杂质分凝排出的过程,生长速率的快慢影响杂质在硅锭中的分凝,也影响晶粒的大小和数量,对晶体性能产生重要影响。现有技术中主要存在的问题为:

1、现有铸锭工艺按照固有工艺程序运行,加热工艺段采用功率控制模式,融化、长晶、退火工艺段采用温度控制模式,冷却工艺段采用功率控制模式。

2、现有铸锭工艺按照固有工艺程序运行,长晶过程中不同工艺段的温度所对应生长速率值为多少并未知晓。

3、现有铸锭工艺按照固有工艺程序运行,不能准确控制长晶过程中每一工艺段的生长速率。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题,本发明提供一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺,利用该工艺调控加热器功率、隔热笼高度等参数控制晶体生长速率,从而达到控制晶体生长速率,降低晶体结晶学缺陷,降低杂质,提高晶体少数载流子寿命等电学性能的目的,具体技术方案如下:

一种控制生长速率提高铸锭多晶硅晶体质量的工艺,步骤如下:

G1.将细化的硅料放置到坩埚内,把坩埚转移到多晶铸锭生长炉中,先将炉内抽至真空,通过检漏之后加热,通入炉体气体,控制生长温度为1430-1435℃,加热器功率62-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度7-12cm;

G2.控制生长温度为1433-1435℃,加热器功率64-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度7-12cm;

G3.控制生长温度为1425-1430℃,加热器功率62-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度8-16cm;

G4.控制生长温度为1428-1430℃,加热器功率62-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度8-16cm;

G5.控制生长温度为1425-1430℃,加热器功率63-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度8-16cm;

G6.控制生长温度为1415-1420℃,加热器功率64-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度8-17cm;

G7.控制生长温度为1418-1420℃,加热器功率64-65kw,炉体压力600mbar,隔热笼高度8-17cm,退火冷却出炉。

优选的,G1中,所述炉体气体为氩气。

优选的,所述G1中晶体生长速率为0.3-0.5cm/h。

优选的,所述G2中晶体生长速率为0.5-1cm/h。

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