[发明专利]异物检查装置在审
| 申请号： | 202180051867.8 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN115885170A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 土屋邦彦;须山敏康 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 异物检查装置(1)包括：对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S)照射X射线(L1)的X射线照射部(6)；检测透过了检查对象物(S)的X射线(L1)，输出基于检测结果的X射线图像数据的X射线检测部(7)；对由搬送部(5)搬送的检查对象物(S)照射红外线(L2)的红外线照射部(8；和检测来自检查对象物(S)的红外线(L2)，输出基于检测结果的红外线图像数据的红外线检测部(9)。红外线照射部(8)和红外线检测部(9)被具有遮蔽X射线(L1)且使红外线(L2)透过的部件的保护部(21)覆盖。 | ||
| 搜索关键词： | 异物 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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