[实用新型]一种LD激光芯片测试设备有效
| 申请号： | 202123451862.0 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN217305412U | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 蔡志宏;张文;杨劲华 | 申请（专利权）人： | 武汉芯荃通科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人： | 王立丽 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市江夏区经济开发区藏龙岛梁*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种LD激光芯片测试设备，包括底板、转盘、支架以及安装在支架上测试机构，所述转盘通过传动轴安装在底板上，所述底板上设有驱动转盘转动的驱动件，所述转盘上具有凹槽，所述转盘上通过铰座连接有压杆，所述压杆上具有通槽，所述转盘上设有作用于通槽、使得压杆转动的动力件。本申请中，芯片置于凹槽处，在电动推杆推动连接环在竖直方向上移动的过程中，移动销在通槽内部滑动，压杆带动压块对芯片压紧固定，在驱动件驱动转盘转动的过程中，测试机构对芯片进行检测，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动，稳定性更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ld 激光 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
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