[实用新型]一种LD激光芯片测试设备

说明书

本实用新型公开了一种LD激光芯片测试设备，包括底板、转盘、支架以及安装在支架上测试机构，所述转盘通过传动轴安装在底板上，所述底板上设有驱动转盘转动的驱动件，所述转盘上具有凹槽，所述转盘上通过铰座连接有压杆，所述压杆上具有通槽，所述转盘上设有作用于通槽、使得压杆转动的动力件。本申请中，芯片置于凹槽处，在电动推杆推动连接环在竖直方向上移动的过程中，移动销在通槽内部滑动，压杆带动压块对芯片压紧固定，在驱动件驱动转盘转动的过程中，测试机构对芯片进行检测，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动，稳定性更高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种LD激光芯片测试设备。

背景技术

为方便于芯片的测试，现有技术中公开了申请号为202120395929.4的一种半导体激光器芯片测试装置，通过在测试仪的下端加设伸缩筒、伸缩杆与测试轮等结构，使得在对芯片进行测试时，可以通过芯片与测试轮之间的滑动使得可以省略伸缩装置，从而可以减少伸缩过程浪费的时间，提高测试效率。

但是该测试装置上缺少对芯片固定的工装，芯片与测试轮接触时，芯片窜动，稳定性较差，因此，一种半导体激光器芯片测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：为了解决上述问题，而提出的一种LD激光芯片测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种LD激光芯片测试设备，包括底板、转盘、支架以及安装在支架上测试机构，所述转盘通过传动轴安装在底板上，所述底板上设有驱动转盘转动的驱动件，所述转盘上具有凹槽，所述转盘上通过铰座连接有压杆，所述压杆上具有通槽，所述转盘上设有作用于通槽、使得压杆转动的动力件。

优选地，所述驱动件包括安装在传动轴底部的皮带轮一，所述底板上安装有电机，所述电机的输出端安装有皮带轮二，所述皮带轮一和皮带轮二之间通过传动皮带连接。

优选地，所述动力件包括贯穿转盘的移动杆，所述移动杆上成型有贯穿通槽的移动销，所述移动杆之间通过连接环相固定，所述转盘上安装有与连接环相连接的电动推杆。

优选地，所述压杆的端部固定有压块。

优选地，所述压块为橡胶材质。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

本申请中，芯片置于凹槽处，在电动推杆推动连接环在竖直方向上移动的过程中，移动销在通槽内部滑动，压杆带动压块对芯片压紧固定，在驱动件驱动转盘转动的过程中，测试机构对芯片进行检测，相比现有技术中的测试装置，可避免芯片测试过程中发生窜动，稳定性更高。

附图说明

图1示出了根据本实用新型实施例提供的测试设备结构示意图；

图2示出了根据本实用新型实施例提供的底板仰视结构示意图；

图3示出了根据本实用新型实施例提供的转盘仰视结构示意图；

图4示出了根据本实用新型实施例提供的图1中A局部放大结构示意图。

图例说明：

1、底板；2、转盘；3、测试机构；4、支架；5、凹槽；6、电机；7、传动轴；8、皮带轮一；9、皮带轮二；10、传动皮带；11、移动杆；12、连接环；13、电动推杆；14、压杆；15、通槽；16、移动销；17、压块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。