[实用新型]芯片自动测试分选设备有效
| 申请号： | 202123119334.5 | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN216827336U | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 周海龙;程腾辉;李家雄;郑子豪;张龙辉;卢立极;刘滔华;简文;廖基坤;董奇 | 申请（专利权）人： | 广东金龙东创智能装备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G01R31/01;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 韩丽波 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试设备技术领域，具体公开一种芯片自动测试分选设备，包括供料机构、料盘转移机构、中转机构、测试机构、合格品收料机构、不良品收料机构和分拣转移机构；供料机构用于提供装载有待测芯片的载料料盘；料盘转移机构用于将载料料盘转移至与中转机构对齐；中转机构用于将待测芯片转移至测试机构进行电气测试，并将已完成测试的已测芯片回送至载料料盘；料盘转移机构还用于将载料料盘转移至合格品收料机构；分拣转移机构用于将合格品收料机构中的载料料盘上测试不合格的NG芯片转移至不良品收料机构中的NG料盘上。本实用新型提供一种芯片自动测试分选设备，能有效实现芯片测试和分拣工序的机械化操作，进而提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动 测试 分选 设备 | ||
【主权项】：
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