[实用新型]芯片自动测试分选设备

权利要求书

1.一种芯片自动测试分选设备，其特征在于，包括供料机构、料盘转移机构、中转机构、测试机构、合格品收料机构、不良品收料机构和分拣转移机构；

所述供料机构用于向所述料盘转移机构提供装载有待测芯片的载料料盘；

所述料盘转移机构用于将载有待测芯片的载料料盘转移至与所述中转机构对齐；

所述中转机构用于将所述载料料盘中的待测芯片转移至所述测试机构进行电气测试，并将已完成测试的已测芯片回送至所述载料料盘；

所述料盘转移机构还用于将装载有已测芯片的载料料盘转移至所述合格品收料机构；

所述分拣转移机构用于将所述合格品收料机构中的载料料盘上测试不合格的NG芯片转移至所述不良品收料机构中的NG料盘上。

2.根据权利要求1所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述供料机构包括用于存放堆叠放置的载料料盘的供料组件和位于所述供料组件与所述料盘转移机构之间的供料传送带。

3.根据权利要求2所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述中转机构包括位置高于所述供料传送带的中转传送带、位于所述中转传送带上的中转载具、用于进行所述载料料盘和所述中转载具之间的芯片转移的中转横移机械手以及用于进行所述中转载具与所述测试机构之间的芯片转移的中转升降机械手。

4.根据权利要求3所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述测试机构包括位置高于所述中转传送带的测试载具和位于所述测试载具上方的压合组件。

5.根据权利要求4所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述测试载具的上表面设有若干用于放置待测芯片的放件槽，所述放件槽的槽底对应于所述待测芯片的测试触点的位置设有探针组件；

所述压合组件包括位于所述测试载具上方的一块压板和用于驱使所述压板往下同时压紧所有所述待测芯片的测试驱动机构。

6.根据权利要求3所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述供料机构、料盘转移机构、中转机构和测试机构沿纵向方向依次排布；所述供料机构、合格品收料机构、不良品收料机构沿横向方向排布。

7.根据权利要求6所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述料盘转移机构包括用于承载所述载料料盘的料盘转移传送带、用于驱使所述料盘转移传送带上下运动的料盘升降驱动机构以及用于驱使所述料盘转移传送带横向运动的料盘横推驱动机构。

8.根据权利要求1所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述供料机构和所述料盘转移机构之间设有CCD扫码机构。

9.根据权利要求1所述的芯片自动测试分选设备，其特征在于，所述料盘转移机构的数量为一组，所述测试机构的数量为两组；

每组所述测试机构对应设置两组所述供料机构；

所述合格品收料机构、不良品收料机构和分拣转移机构位于两组所述供料机构之间。