[实用新型]芯片自动测试分选设备

说明书

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体公开一种芯片自动测试分选设备，包括供料机构、料盘转移机构、中转机构、测试机构、合格品收料机构、不良品收料机构和分拣转移机构；供料机构用于提供装载有待测芯片的载料料盘；料盘转移机构用于将载料料盘转移至与中转机构对齐；中转机构用于将待测芯片转移至测试机构进行电气测试，并将已完成测试的已测芯片回送至载料料盘；料盘转移机构还用于将载料料盘转移至合格品收料机构；分拣转移机构用于将合格品收料机构中的载料料盘上测试不合格的NG芯片转移至不良品收料机构中的NG料盘上。本实用新型提供一种芯片自动测试分选设备，能有效实现芯片测试和分拣工序的机械化操作，进而提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种芯片自动测试分选设备。

背景技术

芯片出厂前需要工人手动将其逐一放入测试载具中进行电气测试，测试完毕后还需要工人手动逐一将芯片取出，然后根据测试结果进行分拣。整个过程耗费大量人力，生产效率较低。

因此，需要研发一种测试设备，用于实现芯片测试和分拣工序的机械化操作，进而提高生产效率。

本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种芯片自动测试分选设备，能有效实现芯片测试和分拣工序的机械化操作，进而提高生产效率。

为达以上目的，本实用新型提供一种芯片自动测试分选设备，包括供料机构、料盘转移机构、中转机构、测试机构、合格品收料机构、不良品收料机构和分拣转移机构；

所述供料机构用于向所述料盘转移机构提供装载有待测芯片的载料料盘；

所述料盘转移机构用于将载有待测芯片的载料料盘转移至与所述中转机构对齐；

所述中转机构用于将所述载料料盘中的待测芯片转移至所述测试机构进行电气测试，并将已完成测试的已测芯片回送至所述载料料盘；

所述料盘转移机构还用于将装载有已测芯片的载料料盘转移至所述合格品收料机构；

所述分拣转移机构用于将所述合格品收料机构中的载料料盘上测试不合格的NG芯片转移至所述不良品收料机构中的NG料盘上。

可选的，所述供料机构包括用于存放堆叠放置的载料料盘的供料组件和位于所述供料组件与所述料盘转移机构之间的供料传送带。

可选的，所述中转机构包括位置高于所述供料传送带的中转传送带、位于所述中转传送带上的中转载具、用于进行所述载料料盘和所述中转载具之间的芯片转移的中转横移机械手以及用于进行所述中转载具与所述测试机构之间的芯片转移的中转升降机械手。

可选的，所述测试机构包括位置高于所述中转传送带的测试载具和位于所述测试载具上方的压合组件。

可选的，所述测试载具的上表面设有若干用于放置待测芯片的放件槽，所述放件槽的槽底对应于所述待测芯片的测试触点的位置设有探针组件；

所述压合组件包括位于所述测试载具上方的一块压板和用于驱使所述压板往下同时压紧所有所述待测芯片的测试驱动机构。

可选的，所述供料机构、料盘转移机构、中转机构和测试机构沿纵向方向依次排布；所述供料机构、合格品收料机构、不良品收料机构沿横向方向排布。

可选的，所述料盘转移机构包括用于承载所述载料料盘的料盘转移传送带、用于驱使所述料盘转移传送带上下运动的料盘升降驱动机构以及用于驱使所述料盘转移传送带横向运动的料盘横推驱动机构。

可选的，所述供料机构和所述料盘转移机构之间设有CCD扫码机构。