[实用新型]一种耐疲劳的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202123071194.9 | 申请日： | 2021-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN216900800U | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 黄毅 | 申请（专利权）人： | 苏州易行电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385 | 代理人： | 叶晓龙 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座和散热组件，所述基座两侧均开设有滑槽，且所述滑槽内部滑动安装有防尘板，所述基座中部安装有测试台，且所述测试台表面开设有放置槽，所述放置槽两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件，且所述辅助组件包括U型架、提手、硅胶活塞、连接杆、辅助片和软胶片，所述U型架左端活动连接有所述提手，且所述提手底部连接有所述硅胶活塞，所述U型架另一端连接有所述连接杆。该耐疲劳的芯片测试装置采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够实现芯片的快速插拔，同时还能够减小芯片引脚受损的情况，还能够提升设备的耐疲劳性，并通过散热组件能够对芯片进行降温，提升其安全性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 疲劳 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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