[实用新型]一种耐疲劳的芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座和散热组件，所述基座两侧均开设有滑槽，且所述滑槽内部滑动安装有防尘板，所述基座中部安装有测试台，且所述测试台表面开设有放置槽，所述放置槽两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件，且所述辅助组件包括U型架、提手、硅胶活塞、连接杆、辅助片和软胶片，所述U型架左端活动连接有所述提手，且所述提手底部连接有所述硅胶活塞，所述U型架另一端连接有所述连接杆。该耐疲劳的芯片测试装置采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够实现芯片的快速插拔，同时还能够减小芯片引脚受损的情况，还能够提升设备的耐疲劳性，并通过散热组件能够对芯片进行降温，提升其安全性能。

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，具体为一种耐疲劳的芯片测试装置。

背景技术

集成电路英语：integrated circuit，缩写作IC；或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，而芯片在出厂时需要对其进行测试，因此需要芯片测试装置。

市场上的芯片测试装置在插拔的过程中费时费力，同时还会引起引脚的损坏，同时影响芯片的测试效率，限制其使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种耐疲劳的芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种耐疲劳的芯片测试装置，包括基座和散热组件，所述基座两侧均开设有滑槽，且所述滑槽内部滑动安装有防尘板，所述基座中部安装有测试台，且所述测试台表面开设有放置槽，所述放置槽两侧均设置有用于芯片快速插接的辅助组件，且所述辅助组件包括U型架、提手、硅胶活塞、连接杆、辅助片和软胶片，所述U型架左端活动连接有所述提手，且所述提手底部连接有所述硅胶活塞，所述U型架另一端连接有所述连接杆，且所述连接杆表面连接有所述辅助片，所述辅助片顶部粘接有所述软胶片，用于芯片耐疲劳的散热组件安装于所述测试台上方。

优选的，所述提手通过所述硅胶活塞与所述U型架构成密封连接，且所述提手呈直角状结构。

优选的，所述连接杆通过所述硅胶活塞与所述提手构成传动连接，且所述连接杆与所述提手关于所述U型架的竖直中心线对称分布。

优选的，所述散热组件包括阻尼转盘、伸缩杆、散热座、柔性导热片和散热风扇，且所述阻尼转盘顶部连接有所述伸缩杆，所述伸缩杆输出端连接有所述散热座，且所述散热座底部粘接有所述柔性导热片，所述散热座顶部设置有所述散热风扇。

优选的，所述散热座通过所述伸缩杆与所述测试台构成旋转连接，且所述散热座的延长线与所述伸缩杆的延长线呈垂直分布。

优选的，所述散热座与所述散热风扇卡合连接，且所述散热座上表面呈鳍片状结构。

优选的，所述防尘板外端安装有封板，且所述封板内壁连接有磁吸片。

优选的，所述基座一侧安装有用于芯片分类存放的收纳组件，且所述收纳组件包括储纳抽屉、转杆、分类盒和干燥盒，所述储纳抽屉内部安装有所述转杆，且所述转杆顶部安装有所述分类盒，所述储纳抽屉内壁安置有所述干燥盒。

优选的，所述分类盒通过所述转杆与所述储纳抽屉构成转动连接，且所述分类盒与所述储纳抽屉呈平行状分布。

本实用新型提供了一种耐疲劳的芯片测试装置，具备以下有益效果：

1、该耐疲劳的芯片测试装置，采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够实现芯片的快速插拔，同时还能够减小芯片引脚受损的情况，还能够提升设备的耐疲劳性，并通过散热组件能够对芯片进行降温，提升其安全性能。