[实用新型]一种TOF芯片的测试系统有效
| 申请号： | 202122200546.X | 申请日： | 2021-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN215894850U | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 雷述宇 | 申请（专利权）人： | 宁波飞芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01S7/497 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 315500 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供一种TOF芯片的测试系统，其特征在于，包括：探针板卡，设置在所述TOF芯片上方；第一光源，设置在所述探针板卡上，用于向所述TOF芯片提供脉冲光；透射镜，设置在探针板卡上方，与所述探针板卡平行；第二光源，设置在透射镜上方，用于向所述TOF芯片提供持续的均匀光；光电传感器，用于监测所述第一光源和所述第二光源。通过在测试系统中设置一个可以测量光功率分布和入射光波形的探测器，结合TOF芯片测量的结果，通过计算得到待测芯片的量子效率和解调对比度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tof 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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