[实用新型]一种TOF芯片的测试系统有效
| 申请号： | 202122200546.X | 申请日： | 2021-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN215894850U | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 雷述宇 | 申请（专利权）人： | 宁波飞芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01S7/497 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 315500 浙江省宁*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 tof 芯片 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种TOF芯片的测试系统，其特征在于，包括：
探针板卡，设置在所述TOF芯片上方；
第一光源，设置在所述探针板卡上，用于向所述TOF芯片提供脉冲光；
透射镜，设置在探针板卡上方，与所述探针板卡平行；
第二光源，设置在透射镜上方，用于向所述TOF芯片提供持续的均匀光；
光电传感器，用于监测所述第一光源和所述第二光源。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，根据所述透射镜，还具有反射功能，用于反射所述第一光源的光线。
3.如权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，所述光电传感器用于监测所述第二光源的光功率分布。
4.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述探针板卡设置通孔，所述第一光源和第二光源的光线通过通孔到达所述TOF芯片。
5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述通孔与所述光电传感器中心对称。
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