[实用新型]一种老化测试柜及其机架结构有效
| 申请号： | 202122058614.3 | 申请日： | 2021-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN215812914U | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 黄锐;丁浩;裴敬;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 邱云雷 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及老化测试柜及其机架结构，第一安装架将柜体分隔成第一温区和第二温区，第三安装架位于第一温区内，并用于安装老化测试板，第二安装架位于第二温区内，并用于安装测试核心板；第一安装架上设有窗口以及直通板，直通板一端用于对接测试核心板，另一端穿过窗口并用于对接老化测试板；在相邻的两个直通板之间、且于第一安装架侧壁上开设有进气口和出气口，相邻的两个直通板所形成的空间内设有第一加热器；自动插拔装置与第一安装架固定，并用于沿水平方向插拔老化测试板。本申请可以解决相关技术中在进行高温测试时，老化区的高温会窜到业务区，影响业务区的操作，在进行低温测试时，在业务区会产生凝露的问题，以及插拔效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 及其 机架 结构 | ||
【主权项】：
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