[实用新型]一种翻盖式电子芯片检测治具有效
| 申请号： | 202121579653.1 | 申请日： | 2021-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN215180687U | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 艾英 | 申请（专利权）人： | 卡探半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人： | 夏梦恬 |
| 地址： | 201612 上海市松江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型属于芯片检测治具领域，具体的说是一种翻盖式电子芯片检测治具，包括上盖板，所述上盖板的下方固定连接有支撑机构，所述支撑机构包含有固定块、转轴、支撑架和定位块，所述固定块的后部活动连接有转轴，所述转轴的上方活动连接有支撑架，所述支撑架的后部上方固定连接有定位块，所述上盖板的下方固定连接有滚动轴，所述滚动轴的左侧固定连接有凹槽；通过上盖板、支撑机构、固定块、转轴、支撑架、定位块、滚动轴、和卡合机构的结构设计，实现了进行翻盖式打开调节，放置固定更加稳定，提高操作精准度的功能，解决了原有的设备打开不够快速，内部放置不够稳定，导致在进行检测时内部的数据不够精准的问题，提高了操作使用的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 翻盖 电子 芯片 检测 | ||
【主权项】：
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