[实用新型]一种翻盖式电子芯片检测治具

说明书

本实用新型属于芯片检测治具领域，具体的说是一种翻盖式电子芯片检测治具，包括上盖板，所述上盖板的下方固定连接有支撑机构，所述支撑机构包含有固定块、转轴、支撑架和定位块，所述固定块的后部活动连接有转轴，所述转轴的上方活动连接有支撑架，所述支撑架的后部上方固定连接有定位块，所述上盖板的下方固定连接有滚动轴，所述滚动轴的左侧固定连接有凹槽；通过上盖板、支撑机构、固定块、转轴、支撑架、定位块、滚动轴、和卡合机构的结构设计，实现了进行翻盖式打开调节，放置固定更加稳定，提高操作精准度的功能，解决了原有的设备打开不够快速，内部放置不够稳定，导致在进行检测时内部的数据不够精准的问题，提高了操作使用的效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测治具领域，具体是一种翻盖式电子芯片检测治具。

背景技术

电子芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况选都需对电子芯片进行检测，通常情况下，检测治具包括设置检测电路的治具底板，治具底板上固定检测底座，治具底板上设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针，检测时，将电子芯片放置在检测底座进行测试。

在进行检测时需要将检测器进行打开，通过连接的转轴进行翻盖式打开，能够提高操作打开速度，使内部的芯片固定更加牢固，从而方便使用者进行操作检测，提高检测精准度。

现有的检测治具在进行使用时难以进行打开，操作不够快速，同时内部的固定块在进行放置芯片时不够稳定，导致设备在进行检测时，使数据不够精准的缺点；

因此，针对上述问题提出一种翻盖式电子芯片检测治具。

实用新型内容

为了弥补现有技术的不足，解决检测治具在进行使用时难以进行打开，操作不够快速，同时内部的固定块在进行放置芯片时不够稳定，导致设备在进行检测时，使数据不够精准的问题，本实用新型提出一种翻盖式电子芯片检测治具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：本实用新型所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，包括上盖板，所述上盖板的下方固定连接有支撑机构，所述支撑机构包含有固定块、转轴、支撑架和定位块，所述固定块的后部活动连接有转轴，所述转轴的上方活动连接有支撑架，所述支撑架的后部上方固定连接有定位块，所述上盖板的下方固定连接有滚动轴，所述滚动轴的左侧固定连接有凹槽，所述凹槽的内部固定连接有固定螺丝，所述支撑机构的前部固定连接有滑轨，所述滑轨的上方活动连接有放置台，所述放置台的内部固定连接有固定机构，所述固定机构包含有卡槽、竖直柱和中心孔。

所述卡槽的中部固定连接有竖直柱，所述竖直柱的中部固定连接有中心孔，所述固定机构的上方固定连接有卡合机构，所述卡合机构包含有连接板、透气孔、安装块、调节轴和贯穿柱，所述连接板的中部固定连接有透气孔，所述透气孔的上方固定连接有安装块，所述安装块的上方活动连接有调节轴，所述调节轴的中部固定连接有贯穿柱，所述卡合机构的上方固定连接有盖帽，本实用新型通过上盖板、支撑机构、固定块、转轴、支撑架、定位块、滚动轴、和卡合机构的结构设计，实现了进行翻盖式打开调节，放置固定更加稳定，提高操作精准度的功能，解决了原有的设备打开不够快速，内部放置不够稳定，导致在进行检测时内部的数据不够精准的问题，提高了操作使用的效率。

优选的，所述上盖板与支撑机构之间通过卡合相连接，且上盖板与滚动轴之间构成旋转结构，通过上盖板进行设备的打开，配合底部的滚动轴进行旋转，操作更加快速。

优选的，所述固定块与转轴之间紧密贴合，且转轴与支撑架之间构成伸缩结构，通过固定块使部件之间的连接更加牢固，提高紧密性。

优选的，所述凹槽与固定螺丝的中轴线之间相重合，且固定螺丝与凹槽之间紧密贴合，通过凹槽和固定螺丝进行配合，提高操作者进行快速安装拆卸设备。

优选的，所述滑轨与放置台之间构成滑动结构，且放置台与固定机构之间通过卡合相连接，通过滑轨使上方的放置台能够快速进行调节使用。