[实用新型]一种翻盖式电子芯片检测治具

权利要求书

1.一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：包括上盖板(1)，所述上盖板(1)的下方固定连接有支撑机构(2)，所述支撑机构(2)包含有固定块(201)、转轴(202)、支撑架(203)和定位块(204)，所述固定块(201)的后部活动连接有转轴(202)，所述转轴(202)的上方活动连接有支撑架(203)，所述支撑架(203)的后部上方固定连接有定位块(204)，所述上盖板(1)的下方固定连接有滚动轴(3)，所述滚动轴(3)的左侧固定连接有凹槽(4)，所述凹槽(4)的内部固定连接有固定螺丝(5)，所述支撑机构(2)的前部固定连接有滑轨(6)，所述滑轨(6)的上方活动连接有放置台(7)，所述放置台(7)的内部固定连接有固定机构(8)，所述固定机构(8)包含有卡槽(801)、竖直柱(802)和中心孔(803)；

所述卡槽(801)的中部固定连接有竖直柱(802)，所述竖直柱(802)的中部固定连接有中心孔(803)，所述固定机构(8)的上方固定连接有卡合机构(9)，所述卡合机构(9)包含有连接板(901)、透气孔(902)、安装块(903)、调节轴(904)和贯穿柱(905)，所述连接板(901)的中部固定连接有透气孔(902)，所述透气孔(902)的上方固定连接有安装块(903)，所述安装块(903)的上方活动连接有调节轴(904)，所述调节轴(904)的中部固定连接有贯穿柱(905)，所述卡合机构(9)的上方固定连接有盖帽(10)。

2.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述上盖板(1)与支撑机构(2)之间通过卡合相连接，且上盖板(1)与滚动轴(3)之间构成旋转结构。

3.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述固定块(201)与转轴(202)之间紧密贴合，且转轴(202)与支撑架(203)之间构成伸缩结构。

4.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述凹槽(4)与固定螺丝(5)的中轴线之间相重合，且固定螺丝(5)与凹槽(4)之间紧密贴合。

5.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述滑轨(6)与放置台(7)之间构成滑动结构，且放置台(7)与固定机构(8)之间通过卡合相连接。

6.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述卡槽(801)以竖直柱(802)的中心线之间相对称，且竖直柱(802)与中心孔(803)的中心线之间相重合。

7.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述连接板(901)与透气孔(902)之间紧密贴合，且透气孔(902)以安装块(903)的中轴线之间相对称。

8.根据权利要求1所述的一种翻盖式电子芯片检测治具，其特征在于：所述调节轴(904)与贯穿柱(905)之间构成旋转结构，且贯穿柱(905)与调节轴(904)之间构成贯穿结构。