[实用新型]晶片清洗装置有效
申请号: | 202121428520.4 | 申请日: | 2021-06-25 |
公开(公告)号: | CN215031662U | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 刘火阳;叶水景;周铁军;马金峰;宋向荣 | 申请(专利权)人: | 广东先导微电子科技有限公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;B08B3/08;B08B3/14 |
代理公司: | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人: | 李琼芳;肖小龙 |
地址: | 511517 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体元件加工技术领域,公开一种晶片清洗装置,对切片后的晶片进行清洗,清洗装置包括清洗槽和朝清洗槽内喷射清洗液的水流喷射管,清洗槽内设有放置晶片的支撑孔板,清洗槽底部开设清洗液排放口。通过支撑孔板放置晶片,采用多根喷射支管向晶片喷射清洗液,无需注意晶片的摆放方式,喷射支管喷出的清洗液的冲力可充分洗刷晶片表面的泥污;清洗槽槽底的漏斗结构可避免清洗结束后泥污沉积在清洗槽内,清洗槽上可拆卸侧板的设置可满足清洗槽自身的清洁操作,在一次清洗作业结束后,可通过拆卸该可拆卸侧板来将清洗槽内壁的泥污清理掉。 | ||
搜索关键词: | 晶片 清洗 装置 | ||
【主权项】:
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