[实用新型]一种半导体二极管快速测试装置有效
| 申请号： | 202121241827.3 | 申请日： | 2021-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN215415733U | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 胡保国 | 申请（专利权）人： | 宏鑫华（中山）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01K1/024;G01K11/00;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京隆达恒晟知识产权代理有限公司 11899 | 代理人： | 王帆 |
| 地址： | 528437 广东省中山市火炬*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种半导体二极管快速测试装置，属于电子器件测试技术领域；所述半导体二极管快速测试装置包括加热箱、无线测温传感器、加热器、接线座、连接件、导线、恒流源、电压表，所述加热箱的顶板上设置有用于放置二极管的加热槽，且加热槽内安装有无线测温传感器，所述加热箱内部设置有加热器，所述接线座安装在加热箱上方，且接线座上设有便于安装二极管的引脚的接线孔，接线孔与安装在接线座内部的连接件相连通，且连接件上连接有导线，所述恒流源通过导线与二极管相连接，且二极管两端并联有电压表；本实用新型在相对封闭的空间内完成测温，且结温数据是直接测出的，测试精度高、结果误差小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 二极管 快速 测试 装置 | ||
【主权项】：
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