[实用新型]一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统有效

专利信息
申请号: 202120793634.2 申请日: 2021-04-17
公开(公告)号: CN215812268U 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 华平壤;张绘平 申请(专利权)人: 派尼尔科技(天津)有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300000 天津市滨海新区天津经济*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型提供一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统,该激光粒度仪包括:激光器,用于发射激光束;物料池,用于承载待检测物料;半透半反射镜,用于进行分光;以及探测组件,探测组件包括一大颗粒探测组件和一小颗粒探测组件,分别设置于半透半反射镜的反射面和透射面,用于收集大颗粒散射的小角度光信号和小颗粒散射的大角度光信号。本实用新型的激光器发出入射光源,照射在物料池里的待测样品上,待测样品对入射光束产生散射作用,经过物料池之后的平行光由半透半反射镜分成两束,分别进入大颗粒探测组件和小颗粒探测组件,其中大颗粒探测组件接收小角度光信号,小颗粒探测组件接收大角度光信号,扩大激光粒度仪测量的粒度分布范围。
搜索关键词: 一种 激光 粒度 以及 测试 系统
【主权项】:
暂无信息
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