[实用新型]一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统

说明书

本实用新型提供一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统，该激光粒度仪包括：激光器，用于发射激光束；物料池，用于承载待检测物料；半透半反射镜，用于进行分光；以及探测组件，探测组件包括一大颗粒探测组件和一小颗粒探测组件，分别设置于半透半反射镜的反射面和透射面，用于收集大颗粒散射的小角度光信号和小颗粒散射的大角度光信号。本实用新型的激光器发出入射光源，照射在物料池里的待测样品上，待测样品对入射光束产生散射作用，经过物料池之后的平行光由半透半反射镜分成两束，分别进入大颗粒探测组件和小颗粒探测组件，其中大颗粒探测组件接收小角度光信号，小颗粒探测组件接收大角度光信号，扩大激光粒度仪测量的粒度分布范围。

技术领域

本实用新型涉及激光技术领域，具体涉及一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统。

背景技术

激光粒度仪是一种通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。颗粒粒度分布范围是激光粒度仪的一项重要指标。测量的粒度分布范围越宽，仪器的应用领域越广。目前，为扩大测量颗粒粒度分布范围，市场上已经成熟的光路结构主要有：透镜后傅里叶变换结构、双镜头结构，以及从以上两种光路结构改进而来的增加后向散射光接收装置的透镜后傅里叶变换结构、双波长双光束的透镜后傅里叶变换结构和应用大角散射光球面接收技术、双向偏振光补偿技术和梯形测量窗口技术的光路结构等。

目前采用散射法的激光粒度测量范围一般在亚微米量级到毫米量级。上述光路结构虽然能够满足粒度分布范围的测量要求，但性能还有待进一步提高。

发明内容

有鉴于此，本实用新型提供一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统，扩大激光粒度仪测量的粒度分布范围。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种激光粒度仪，该激光粒度仪包括：

激光器，用于发射激光束；

物料池，用于承载待检测物料；

半透半反射镜，用于进行分光；以及

探测组件，探测组件包括一大颗粒探测组件和一小颗粒探测组件，分别设置于半透半反射镜的反射面和透射面，用于收集大颗粒散射的小角度光信号和小颗粒散射的大角度光信号。

优选地，半透半反射镜与光轴成45度，且透反比为1:1。

优选地，该激光粒度仪还包括第一透镜，该第一透镜设置于物料池与半透半反射镜之间，为小焦距透镜。

优选地，大颗粒探测组件包括第二透镜以及一散射探测阵列，第二透镜为小焦距透镜，与第一透镜构成大焦距透镜组。

优选地，小颗粒探测组件为一散射探测阵列。

优选地，散射探测阵列包括：

一散射探测器；

一分光棱镜；以及

分光棱镜两侧的显微镜和单点探测器。

优选地，散射探测器上设置有镂空通孔。

优选地，所述第一透镜和所述第二透镜作镀增透膜处理。

优选地，该激光粒度仪还包括扩束准直系统，该扩束准直系统设置于激光器与物料池之间，用于将激光器发出的光束形成平行光。

一种激光粒度测试系统，包括激光粒度仪以及与该激光粒度仪连接的计算机。

本实用新型具有的优点和积极效果是：本实用新型的激光器发出入射光源，照射在物料池里的待测样品上，待测样品对入射光束产生散射作用，经过物料池之后的平行光由半透半反射镜分成两束，分别进入大颗粒探测组件和小颗粒探测组件，其中大颗粒探测组件接收小角度光信号，小颗粒探测组件接收大角度光信号，扩大激光粒度仪测量的粒度分布范围。

附图说明