[实用新型]一种激光粒度仪以及激光粒度测试系统

权利要求书

1.一种激光粒度仪，其特征在于：该激光粒度仪包括：

激光器，用于发射激光束；

物料池，用于承载待检测物料；

半透半反射镜，用于进行分光；以及

探测组件，探测组件包括一大颗粒探测组件和一小颗粒探测组件，分别设置于半透半反射镜的反射面和透射面，用于收集大颗粒散射的小角度光信号和小颗粒散射的大角度光信号。

2.根据权利要求1所述的激光粒度仪，其特征在于：半透半反射镜与光轴成45度，且透反比为1:1。

3.根据权利要求1或2所述的激光粒度仪，其特征在于：该激光粒度仪还包括第一透镜，该第一透镜设置于物料池与半透半反射镜之间，为小焦距透镜。

4.根据权利要求3所述的激光粒度仪，其特征在于：大颗粒探测组件包括第二透镜以及一散射探测阵列，第二透镜为小焦距透镜，与第一透镜构成大焦距透镜组。

5.根据权利要求3所述的激光粒度仪，其特征在于：小颗粒探测组件为一散射探测阵列。

6.根据权利要求4或5所述的激光粒度仪，其特征在于：散射探测阵列包括：

一散射探测器；

一分光棱镜；以及

分光棱镜两侧的显微镜和单点探测器。

7.根据权利要求6所述的激光粒度仪，其特征在于：散射探测器上设置有镂空通孔。

8.根据权利要求7所述的激光粒度仪，其特征在于：所述第一透镜和所述第二透镜作镀增透膜处理。

9.根据权利要求1所述的激光粒度仪，其特征在于：该激光粒度仪还包括扩束准直系统，该扩束准直系统设置于激光器与物料池之间，用于将激光器发出的光束形成平行光。

10.一种激光粒度测试系统，其特征在于：包括如权利要求1至9任意一项所述的激光粒度仪以及与该激光粒度仪连接的计算机。