[发明专利]一种整板晶体微调方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111683067.6 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114172479A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 李斌;黄屹 申请(专利权)人: 四川明德亨电子科技有限公司
主分类号: H03H3/04 分类号: H03H3/04
代理公司: 烟台上禾知识产权代理事务所(普通合伙) 37234 代理人: 赵加鑫
地址: 646300 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种整板晶体微调方法,首先对待刻蚀基板所有位置产品进行频率测量,利用网络将产品数据传至服务器;然后微调机对待刻蚀基板测量,读取服务器该基板测试位置产品的2#频率信息,计算出差值写入动态库;微调机根据自身测量值和前述差值进行频率调整;本方案1、使得产线可以柔性化生产,一台设备同时加工不同频率、负载晶体;2、解决了探针两次接触带来的测试随机偏差问题;3、解决了微调机工作环境对测试的系统误差问题;4、不需要在微调机上对标晶,从而提高生产效率。本发明还公开了一种对整板晶体微调的系统。
搜索关键词: 一种 晶体 微调 方法 系统
【主权项】:
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