[发明专利]一种千分尺刻线标定器及刻线标定方法在审

专利信息
申请号: 202111673505.0 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN116412732A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 郭胜;邓鹏波;赵米锋;丁国;朱锴;王平;张春生;惠木林 申请(专利权)人: 西安航天计量测试研究所
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 赵逸宸
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种千分尺刻线标定器及刻线标定方法;解决现有技术中存在的使用工具显微镜检定,测量结果不直观,对压线、离线容易搞混的问题;标定器具体包括支座、刻线板以及放大件;所述支座包括搭接筒;所述搭接筒上轴向设置有观察孔;所述刻线板安装在所述观察孔内;所述刻线板采用透明玻璃材质,所述刻线板上刻有第一刻度线;所述第一刻度线包括横刻度线以及竖刻度线;所述竖刻度线的范围为0~0.30mm;所述横刻度线的范围为‑0.05~0.30mm;所述横刻度线和竖刻度线中任一相邻刻线之间的宽度均为0.01mm;所述横刻度线的0.08处刻线与0.20处刻线之间、0.20处刻线与0.30处刻线之间、‑0.05处刻线与0.10处刻线之间分别用细线相连;所述放大件同轴安装在观察孔上方。
搜索关键词: 一种 千分尺 标定 方法
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