[发明专利]一种芯片测试系统有效
| 申请号： | 202111669714.8 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114280463B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 彭琪;黄思琪;叶杨椿;魏秀强;苏文毅;余漫;闫大鹏 | 申请（专利权）人： | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 钟勤 |
| 地址： | 430000 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试系统，包括第一平台、上料机构、模拟激光机构、第一测试机构、第二测试机构、第三测试机构和控制器，上料机构、模拟激光机构、第一测试机构、第二测试机构和第三测试机构分别与控制器连接，第一测试机构的积分球用于获得第一光强度信号，第二测试机构与积分球配合，通过积分球获得第五光强度信号，第三测试机构用于获得第三光强度信息和第四光强度信号，控制器用于根据第一光强度信号、第五光强度信号、第三光强度信号和第四光强度信号计算获得裸测功率、测试功率、发散角，根据裸测功率和测试功率计算待测试芯片的偏振度，根据裸测功率、偏振度和发散角判断待测试芯片是否合格，并输出测试结果。提高测试效率和准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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